●采用模塊化理念，為未來的發(fā)展做好準(zhǔn)備
現(xiàn)在你獲得的這款儀器已經(jīng)可以滿足未來的需求。其設(shè)計為為不遠(yuǎn)的將來能夠擴(kuò)展多種功能和可能性?？梢栽诋?dāng)前系統(tǒng)中添加新功能和模式。
●設(shè)計穩(wěn)固，適用于工業(yè)應(yīng)用
安東帕 AFM原子力顯微鏡的設(shè)計專注于工業(yè)應(yīng)用。儀器的機(jī)械和電子元件已經(jīng)通過耐久性測試進(jìn)行了全 面檢查。所有關(guān)鍵部件都必須通過這些測試，以**能夠在運行現(xiàn)場多年無故障運行。
●緊湊型儀器，體積小巧
儀器的兩大部分——主機(jī)和控制器——在實驗室空間和功能方面都做了優(yōu)化。安東帕的 AFM 集**的自動化與高精度于一體，同時只需要很少的空間。例如，壓電陶瓷 驅(qū)動器仍留有充足空間用于安裝其他模式或模塊的電子擴(kuò)展卡。
●**盡在掌控
安東帕 AFM 簡化了與儀器的交互，操作非常簡單。您只需將樣品放在樣品臺上，安裝懸臂梁，然后關(guān)閉倉門即可。其余的活動（比如樣品定位、接觸過程等等）均由軟件來執(zhí)行和控制。
●數(shù)秒中內(nèi)即可更換懸臂梁
壓電陶瓷驅(qū)動器 設(shè)計精巧，您可以使用我們的懸臂梁更換工具，非常輕松、快速地更換懸臂梁。只需將壓電陶瓷驅(qū)動器放入工具中，然后向內(nèi)或向外滑動懸臂梁。無需用鑷子將懸臂梁放入壓電陶瓷驅(qū)動器中，并且能**懸臂處于佳的放置。
安東帕原子力顯微鏡Tosca系列儀器簡介：
利用 Tosca AFM 縮短獲得結(jié)果的時間
Tosca 系列以獨特的方式將**技術(shù)與高時效操作相結(jié)合，使這款 AFM 成為非常適合科學(xué)家和工業(yè)用戶等群體的納米技術(shù)分析工具。
有兩種不同的型號可供選擇：Tosca 400 或 Tosca 200，前者適合大樣品，屬于優(yōu)異 AFM，后者適合中型樣品以及預(yù)算有限的用戶。兩者提供的性能、靈活性和質(zhì)量水平相同。
安東帕原子力顯微鏡Tosca系列主要特點：
●利用出色的定位性能：自動激光對準(zhǔn)
在進(jìn)行 AFM 測量時，一個非常重要但也很復(fù)雜的步驟是激光對準(zhǔn)這個步驟會非常耗時，尤其是缺乏經(jīng)驗的用戶。因此，Tosca 400 提供完全自動化的激光對準(zhǔn)功能：將懸臂梁安裝到壓電陶瓷驅(qū)動器上并將壓電陶瓷驅(qū)動器安裝到 AFM 測量頭后，用戶只需在控制軟件中點擊兩下，儀器便會自動執(zhí)行激光對齊。
●信賴您的測量結(jié)果：zui大限度減少平面外運動
借助 XY 方向和 Z 方向解耦合的掃描器架構(gòu)，XY 方向的掃描器位于樣品之下，而 Z 方向的掃描器位于儀器測量頭中。這種儀器設(shè)計可大大降低掃描器之間的串?dāng)_及平面外運動程度，這些問題是使用掃描管的傳統(tǒng) AFM 系統(tǒng)的已知缺陷，會導(dǎo)致典型的背景彎曲或“弓形”問題。Tosca 系列的平面外運動程度比市面上的掃描管 AFM 低達(dá) 20 倍。
●整個視圖：zui高精度的大范圍掃描
鑒于 X-Y 方向的掃描范圍高達(dá) 100 μm 以及 Z 方向的掃描范圍高達(dá) 15 μm，您可以靈活地對形貌變化大的大范圍樣品進(jìn)行成像。點擊即可移動的 Tosca Control 軟件導(dǎo)航有助于您快速精 確地選擇關(guān)注區(qū)域。
●前移：AFM 市場上zui簡單的進(jìn)針過程
進(jìn)針過程將樣品表面與針尖接觸。這是 AFM zui關(guān)鍵的操作過程之一。為了解決了這一問題，Tosca 系列利用側(cè)視攝像頭追蹤懸梁臂的確切位置并使其盡可能地靠近表面移動。然后，您便可以啟動自動進(jìn)針過程，懸臂梁在數(shù)秒內(nèi)便可接觸樣品表面并準(zhǔn)備進(jìn)行掃描。
●快速**地更換懸臂梁
Probemaster 是專門為懸臂梁操作而**的獨特工具，可節(jié)約時間并**快速、**且準(zhǔn)確地放置懸臂梁。這樣可**您能快速**地安裝壓電陶瓷驅(qū)動器與懸梁臂以進(jìn)行下一次測量。
●體驗不折不扣的出色精度
解耦合的掃描器架構(gòu)**低至亞納米級別的zui高精度，毫無弓形缺陷。X-Y 方向的閉環(huán)掃描消除了非線性和蠕變問題，提供zui高精度的納米級分析。
安東帕原子力顯微鏡Tosca系列技術(shù)指標(biāo)：
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Tosca 400 |
Tosca 200 |
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掃描器 |
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X-Y 方向掃描范圍 |
100 μm x 100 μm |
50 μm x 50 μm* |
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Z 方向掃描范圍 |
15 μm |
10 μm** |
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zui大掃描速度 |
10 行/秒 |
5 行/秒 |
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樣品尺寸 |
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樣品zui大直徑 |
90 mm |
45 mm |
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樣品zui大高度 |
25 mm |
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樣品zui大重量 |
< 600 g |
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自動化平臺 |
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X-Y 向臺 |
100 mm 行程 |
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Z 向臺 |
85 mm 行程 |
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定位重復(fù)性 （單向） |
<1 μm |
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視頻顯微鏡 |
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相機(jī) |
彩色，500 萬像素，CMOS 傳感器 |
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視場 |
1.73 mm x 1.73 mm |
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空間分辨率 |
5 μm |
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聚焦 |
自動聚焦 |
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總覽相機(jī) |
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相機(jī) |
彩色，500 萬像素，CMOS 傳感器 |
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視場 |
40 mm x 40 mm |
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空間分辨率 |
50 μm |
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側(cè)視相機(jī) |
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側(cè)視相機(jī) |
黑白，視場范圍位大約 30 mm |
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模式 |
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標(biāo)準(zhǔn)模式 |
接觸模式、輕敲模式（包括相位圖像）、橫向力顯微鏡、力距離曲線 |
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可選模式 |
接觸共振振幅成像 |
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尺寸和重量 |
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AFM 裝置尺寸（長 x 寬 x 高） |
490 mm x 410 mm x 505 mm |
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控制器尺寸（長 x 寬 x 高） |
340 mm x 305 mm x 280 mm |
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AFM 裝置重量 |
51.1 kg |
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控制器重量 |
7.8 kg |
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* 可選擇升級到 90 μm x 90
μm
** 可選擇升級到 12 μm 或 15 μm
